半導体EMC-サブコミティ活動状況

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2017年度計画

  • 規格審議WG
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    • (1) 半導体EMCモデル(IEC 62433シリーズ)の標準規格策定
      • IEC 62433-1(General Condition)のCD審議および投票
      • IEC 62433-6 (ICIM-CPI)のCD審議および投票
    • (2) 車載ネットワーク測定法(IEC 62228シリーズ)の標準規格策定
      • IEC 62228-1 General & Definition CDV審議および投票
      • IEC 62228-3 CAN Transceivers CD審議および投票
    • (3) 日本新規格提案 作成スタート
      • IEC 62228-7 CXPI Transceivers WD 日本提案 2017年9月レーゲンズブルグ会議提案予定
      • IEC 61967-1 Ed2.0 General Condition CD審議および投票
      •               


  • 広報WG
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    • (1) 半導体EMCセミナー開催
    • (2) 他団体(設計技術委員会)などとの連携活動


  • 実証実験WG
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    • (1) IEC 62228シリーズ(トランシーバ規格)の実証実験の実施
      • IEC 62228-3 CAN-FD(ドイツ提案)の妥当性検証
      • IEC 62228-7 CXPI(日本提案)の試験ボード最適化検証とクライテリアの検証

2016年度成果

2016年度成果
  • 規格審議WG
    •  
    • (1) 半導体EMCモデル(IEC 62433シリーズ)の標準規格策定
      • IEC 62433-2(ICEM-CE)のFDIS審議および賛成投票
      • IEC 62433-3(ICEM-RE)のFDIS審議および賛成投票
      • IEC 62433-4(ICIM-CI)のFDIS 賛成投票
      • IEC 62433-6 (ICIM-CPI)のNP 賛成投票 エキスパート登録
    • (2) 車載ネットワーク測定法(IEC 62228シリーズ)の標準規格策定
      • IEC 62228-1 General & Definition CD審議とコメント送付(7件)
      • IEC 62228-2 LIN TransceiversのFDIS 賛成投票
      • IEC 62228-3 CAN Transceivers CD審議とコメント送付(35件)
    • (3) 既存規格審議
      • IEC 61967-4Ed2.0 Corrigendum コメント送付(4件)
    • (4) 日本新規格提案 作成スタート
      • IEC 62228-7 CXPI Transceivers WD 日本提案 2017年9月レーゲンズブルグ会議提案予定
      • IEC 61967-1 Ed2.0 General Condition 改訂版CD 2017年5月ツールーズ会議提案
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  • 広報・実証実験WG
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    • (1) 半導体EMCセミナー開催(2017年1月27日)
      • システム設計・EMC/ノイズ対策・対策部品など、多岐に渡るEMC関連の講演を実施
        • JEITA講師より半導体とシステムのEMC関連規格を解説
          • 「半導体EMC関連規格の解説」
          • 「民生・車載機器のEMC試験が半導体デバイスに与える影響」
        • 外部講師を招聘し、EMCに関する講演
          • 「LED照明からのEMC」 沖エンジニアリング株式会社 EMCセンター様
          • 「医療機器におけるEMC」 神戸市地域医療財団 西神戸医療センター様
          • 「車載電子機器のEMC対応設計について」 株式会社クオルテック様
    • (2) IEC 62228シリーズ(トランシーバ規格)の実証実験の実施
      • IEC 62228-3 CAN-FD(ドイツ提案)の妥当性検証
      • IEC 62228-7 CXPI(日本提案)の試験ボード最適化検証とクライテリアの検証


2015年度成果

2015年度成果
  • 測定法とモデリングに関する規格案6件を審議し,投票を実施
  • 半導体EMCセミナーを開催。 半導体規格解説とともに、セットレベル・製品レベルのEMCに関する講演を行い、多角的にEMC問題を考える場を提供




2014年度成果

  • 測定法とモデリングに関する規格案4件を審議し,投票を実施
  • パリ会議、東京会議に委員を派遣し,日本意見を規格案に反映
  • マイコンを対象としたEMC測定およびシミュレーションを試行し、結果を外部セミナーで発表
  • JEITA EDA技術専門委員会との連携開始
    • (LPB相互設計WG、ナノ世代物理設計WG)

2013年度成果

  • SC47A/WG2、7、 9のロンドン会議(10月)に委員4名を派遣し,規格案/規格化方針へ日本意見を反映
  • SC会議を5回(4月,6月,9月,1月,3月)開催し,国際規格案の審議,国際会議の準備・報告等を実施
  • 半導体EMC測定法規格についての審議状況は以下の通り
    • Emission測定法規格(IEC 61967、IEC62228シリーズ)
      • 61967-1-1:CD審議、日本コメント送付
      • 61967-3: CD審議、日本コメント送付
    • Immunity測定法規格(IEC 62132,IEC 62215シリーズ)
      • 62132-1:3rdCD、CDVを作成・・・日本担当
      • 62132-9:CD審議、日本コメントを送付
      • 62215-3:CDV審議を行い、賛成を投票 ⇒ 規格発行済み
    • モデリング規格(IEC 62433シリーズ)
      • 62433-3:NP審議を実施中
      • 62433-4:NP審議を実施中
  • マイコン/オペアンプを用いたEMC試験とEMCシミュレーションの試行
  • EDS Fair 製品技術小委員会ブースにてパネル展示を行い、半導体EMCサブコミッティ活動を紹介

2012年度成果

  • SC47A/WG2,7,9のシンガポール会議(5月),済州島会議(10月)に委員4名を派遣し,規格案/規格化方針へ日本意見を反映
  • SC会議を4回(6月,9月,12月,3月)開催し,国際規格案の審議,国際会議の準備・報告等を実施
  • 半導体EMC測定法規格についての審議状況は以下の通り
    • Emission測定法規格(IEC 61967シリーズ)
      • 61967-3:CD審議を行い,日本コメントを送付 ⇒ 2nd CDの審議中
    • Immunity測定法規格(IEC 62132,IEC 62215シリーズ)
      • 62132-1:2nd CDを提出・・・日本担当
      • 62132-8:FDIS内容確認を行い,Yesを投票   ⇒ 規格発行済み
      • 62132-9:CD審議を行い,日本コメントを送付 ⇒ 2nd CDの審議中
      • 62215-3:CDV審議を行い,YESを投票     ⇒ 次はFDISに移行
    • モデリング規格(IEC 62433シリーズ)
      • 62433-3:WD(Working Draft)の内容を確認中
      • 62433-4:NP審議を行い,Yesを投票      ⇒ NPは否決
  • 小澤委員がSC47A/WG2の新Convenerに就任
  • マイコン/オペアンプを用いたEMC試験とEMCシミュレーションの試行に向け,評価環境構築に着手
  • サブコミティのページ(Web)を更新し,新規格の情報を発信。また,規格化状況を更新

2011年度成果

  • SC47A/WG2,9のミュンヘン国際会議(10月)に委員(3名)を派遣し,規格案への日本意見反映を図るとともに,WG7に委員を派遣し今後のWG7の活動方針の議論に参画
  • SC会議を5回(5月,9月,11月,1月,3月)開催し,国際規格案の審議,ミュンヘン会議の準備・報告等を実施
  • 半導体EMC測定法規格についての審議状況は以下の通り
    • Emission測定法規格(IEC 61967シリーズ)
      • 61967-8:FDIS審議を行いYesを投票 ⇒ 8月11日IS発行済み
    • Immunity測定法規格(IEC 62132,IEC 62215シリーズ)
      • 62132-1:CDを作成しWG9で回覧中・・・日本担当
      • 62132-8:CDV審議を行いYesを投票 ⇒ 次はFDISに移行
      • 62132-9 Surface Scan:仏よりNPがあり内容を確認中(5月締切)
      • 62215-3:CD審議を行い,日本コメントを送付済み⇒次はCDVに移行
    • モデリング規格(IEC 62433シリーズ)
      • 62433-4 Conducted Immunity:仏よりNPがあり,内容確認中(5月締切)
  • 佐久間委員がSC47A/WG2の新Convenerに就任
  • EDA専門委員会 LPB相互設計WGとの連携を図り,ツールベンダーを中心に新たに3社がまずはオブザーバとして参加
  • 疑似LSI/電源ICを用いたEmission/Immunity試験とEMCシミュレーションの試行にむけた検討に着手

2010年度成果

  • SC47A/WG2, 7, 9のシアトル国際会議(10月)に委員を派遣し,規格案への日本意見反映を図る
  • SC会議を4回(5月25日,9月28日,12月14日,3月18日)開催し,規格案審議,シアトル会議対応・報告等を実施
  • 半導体EMC関連規格についての審議状況は以下の通り
    • Emission測定法規格(IEC 61967シリーズ)
      Part6: Technical Corrigendumの発行完了(日本担当)
      Part8: CDV審議を行い,コメント付きYesを投票
    • Immunity測定法規格(IEC 62132シリーズと62215シリーズ)
      62132-1: メンテナンスを開始(日本担当)
      62132-8: CD審議を行い,コメント付きYesを投票
      62215-3: CD審議を行い,コメント付きYesを投票
    • モデリング規格(IEC 62433シリーズ)
      Part1: 規格化を完了(日本担当)
    • メンテナンス: IEC 61967-1,2,62215-2,62404の有効期間を延長

2009年度成果

  • SC47A/WG2, 9のクラクフ国際会議(4月)、ミュンヘン国際会議(11月)に委員を派遣し、規格案に日本意見を反映
  • SC会議を4回(6月22日、10月23日、1月15日、3月25日)開催し、国際規格案の審議、クラクフ/ミュンヘン会議対応・報告等を実施
  • 測定法規格化取り組み
    以下の規格案を審議し,修正意見とともに賛成投票を実施
    • Emission測定規格 IEC 61967-1-1:NFS Data Exchange Format(DTR)
    • Emission測定規格 IEC 61967-8:IC Strip-line(CD)
    • Immunity測定規格 IEC 62132-3:TEMセル(CDV)
    • Immunity測定規格 IEC/TS 62132-6:LIHA(NP)
    • Immunity測定規格 IEC 62132-8:IC Strip-line(CD)
  • モデリング規格化取り組み
    • IEC 62433-1:General conditions and definitions(3CD)・・・日本提案
    • IEC 62433-2:Conducted emissions modelling (ICEM-CE)(FDIS)
    • IEC 62433-2-1:Theory of black box modelling(DTR)・・・日本提案

2008年度成果

  • SC47A/WG2, 9の国際委員会(Nantes@4月、東京@10月)に委員を派遣し、規格案に日本意見を反映
  • SC会議を4回(5月27日、8月27日、12月17日、2009年3月23日)開催し、国際規格案の審議、Nantes会議・東京会議報告等を実施
  • 測定法規格化取組み
    以下の規格案を審議し、修正意見とともに賛成投票を実施
    • Emission測定規格 IEC 61967-8:IC Strip-line(NP)
    • Immunity測定規格 IEC 62132-3:TEMセル(CDV)
    • Immunity測定規格 IEC/TS 62132-6:LIHA(NP)
    • Immunity測定規格 IEC 62132-8:IC Strip-line(NP)
  • モデリング規格化取組み
    以下の規格案を審議し、日本意見のフィードバックを実施
    • IEC 62433-1:Framework(CD)
    • IEC 62433-2:Conducted Emission Model(FDIS)
    (*)Part1については修正を日本が担当し、2nd CDを発行(2009年1月16日)

2007年度成果

  • SC47A/WG2, 9の国際委員会(トリノ@4月、ツールーズ@11月)に委員を派遣し、規格案に日本意見を反映
  • SC会議を5回(4月9日、7月3日、10月5日、12月19日、2008年3月25日)開催し、国際規格案の審議、トリノ会議・ツールーズ会議報告等を実施
  • 測定法規格化取組み
    • エミッション測定法の日本提案規格(IEC 61967-6 MP法)に関し、より高解像度で測定可能な方法をAmendmentとして規格化完了
    • イミュニティ測定規格のIEC 62132-3:BCI法のFDISを審議
  • モデリング規格化取組み
    • IEC 62433-2:Conducted Emission ModelのCDVを審議し、否決投票実施