半導体信頼性技術委員会

半導体信頼性技術委員会について

半導体信頼性技術委員会は,産業、民生用途などの一般的な半導体デバイスの品質・信頼性の評価(試験)方法に関して標準化活動を行っています。

 

お知らせ

「半導体故障解析セミナー『半導体故障解析用語集第一版』発行記念」開催延期について

2020年3月3日(火)に開催を予定しておりました、「半導体故障解析セミナー『半導体故障解析用語集第一版』発行記念<」は、現在発生している新型コロナウイルスの影響を鑑み、ご参加いただく方々の安全と感染拡大の防止を考慮しまして、開催を延期させていただくこととなりました。

開催日程が決まり次第、改めまして、告知いたします。

第7回半導体信頼性認定ガイドラインセミナー(集積回路)

「品質・信頼性を確保する新しい信頼性認定国際規格(IEC60749-43)」

〜日本発、世界標準:車載・一般用途半導体部品認定ガイドラインの紹介〜

2020/1/31(金) 開催地:大阪市(中之島)

 新興国の半導体の品質・信頼性レベルが不明確である、半導体部品の品質認定方法が分からない等の問題に対して、一般社団法人電子情報技術産業協会(JEITA)半導体信頼性技術委員会では、2011年4月にガイドラインとして「半導体集積回路信頼性認定ガイドライン(EDR-4708)」を制定しました。その後、2017年6月に“IEC60749-43”として国際標準化を達成し、EDR-4708の考え方がワールドワイドで浸透し始めています。

 現在、車載用半導体集積回路の認定規格としてはAEC-Q100が良く知られていますが、AEC-Q100は摩耗故障に注目した過度な強度・寿命を追求する規格になっており、本質的な品質に関する観点が抜けているという課題があります。さらに、車載以外の用途に対してもAEC-Q100に相当する過大な認定試験要求が出てきています。

 本ガイドラインは、車載に限らず各種用途の半導体部品ユーザが求める「高品質・高信頼性で安心できる製品」を少ない試験コスト、短い試験期間、既存試験データの有効活用で効率的に実現するためのガイドとして、日本内外での活用が期待されます。本セミナーでは国際標準化に伴うビジネスへのインパクト、EDR-4708Bによる半導体製品の認定方法について解説を行います。

 詳細は下記リンクの案内pdfをご覧ください。

 集積回路ICを中心とした半導体信頼性認定ガイドラインセミナーは初めての関西での開催となります。多くの皆様のご参加をお待ちいたしております。

(特別講演)ビッグ/スモールデータ時代の信頼性データ解析   電気通信大学 教授 横川慎二 先生