半導体信頼性技術委員会

半導体信頼性技術委員会について

半導体信頼性技術委員会は,産業、民生用途などの一般的な半導体デバイスの品質・信頼性の評価(試験)方法に関して標準化活動を行っています。

半導体信頼性技術ガイドラインセミナー (パワー半導体およびパワー化合物半導体)

〜個別半導体の半導体部品認定ガイドラインおよび化合物パワー半導体の結晶欠陥検査方法(Part3新規制定)、化合物パワー半導体信頼性試験方法の紹介〜

2018/ 8/31 開催地:東京

    JEITA EDR-4711A 個別半導体信頼性認定ガイドラインの解説   

    JEITA EDR-4712/100, EDR-4712/200 SiCウェーハの結晶欠陥の非破壊検査方法の解説

    JEITA EDR-4712/300 フォトルミネッセンス法によるSiCエピタキシャル層欠陥の検査方法の新規制定!

    JEITA EDR-4713 化合物パワー半導体信頼性試験方法ガイドライン(SiC/GaN)の解説

    パワー半導体の車載用途の立場から見た信頼性の考え方などをトヨタ自動車(株)の藤川東馬氏を招へいし特別講演を行っていただきます

半導体デバイス信頼性 故障メカニズムセミナー

〜改訂JEITA技術レポート(EDR-4707A)をJEITAエキスパートが解説します〜

「※JEITA EDR-4707A: LSIの故障メカニズム及び試験方法に関する調査報告」

2018/ 7/ 31 開催地:東京

    半導体信頼性保証に必須の知見である故障メカニズムを基本的な内容から、メカニズムの詳細、最新のモデルの動向について解説します。基礎から理解したい方に加え、過去にJEITAセミナーに参加された方にも、理解を深め拡げて頂ける内容としております。  

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