半導体信頼性技術委員会

半導体信頼性技術委員会について

半導体信頼性技術委員会は,産業、民生用途などの一般的な半導体デバイスの品質・信頼性の評価(試験)方法に関して標準化活動を行っています。

半導体デバイス信頼性セミナー

〜Foundry活用時代に必要な半導体信頼性の知識とは?〜

故障メカニズムとその考え方について、JEITAメンバーが丁寧に解説します!

2018/ 11/ 16 開催地:広島市

    半導体デバイスの開発・設計・製造業務は分業化が進んでおり、Foundryを活用する機会が増えています。Foundryから提示されるデータを用い、適切な信頼性であるか検討する必要があります。一方で、微細化が進む先端CMOSプロセスは、世代ごとにトランジスタとゲート酸化膜、多層配線の摩耗故障の故障メカニズムと信頼性は複雑になり、故障メカニズムの内容、試験方法、寿命推定手順は難解になっています。また、材料中のα線や宇宙線起因のソフトエラーについても同様です。本セミナーでは半導体デバイス信頼性の専門家であるJEITA委員が、CMOSデバイスの摩耗およびソフトエラーの故障メカニズムと信頼性の考え方について、特にFoundryを使ううえでの注意点も含めて詳しく解説します。

(特別講演)多層配線の故障物理メカニズムと信頼度予測   電気通信大学 准教授 横川慎二 先生  

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