半導体信頼性技術委員会

半導体信頼性技術委員会について

半導体信頼性技術委員会は,産業、民生用途などの一般的な半導体デバイスの品質・信頼性の評価(試験)方法に関して標準化活動を行っています。

半導体デバイスFoundry(摩耗故障・ソフトエラー)セミナー 2017/11/20 開催地:仙台市

〜Foundry活用時代のシリコン信頼性について〜

    EDR-4707 LSIの故障メカニズム及び試験方法に関する調査報告 の執筆陣による解説

    EDR-4705A JEITAソフトエラー試験ガイドライン(IEC基準にも提案成立)を解説します。 

半導体デバイス標準化 ESDセミナー 2017/11/21 開催地:仙台市

    JEITAーEDR4709:システムレベルESDに対応した半導体のESD試験方法検討と システムへの半導体部品実装方法のガイドライン

    JEITAーEDR4710:半導体取り扱いとESD耐量適正化検討のガイドライン 詳細解説

半導体信頼性技術ガイドラインセミナー (パワー半導体およびパワー化合物半導体)

2017/11/22 開催地:福岡市

〜個別半導体の半導体部品認定ガイドライン(改正)および化合物パワー半導体の結晶欠陥検査方法(新規制定)、信頼性試験方法(新規制定)の紹介〜

    JEITA EDR-4711A 個別半導体信頼性認定ガイドラインの改正!   

    JEITA EDR-4712/100,EDR-4712/200 SiCウェーハの結晶欠陥の非破壊検査方法の新規制定!

    JEITA EDR-4713 化合物パワー半導体信頼性試験方法ガイドライン(SiC/GaN)の新規制定!

    SiCパワーデバイスの信頼性分野のオーソリティである筑波大学 矢野先生による特別講演決定!

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