半導体信頼性技術委員会

半導体信頼性技術委員会について

半導体信頼性技術委員会は,産業、民生用途などの一般的な半導体デバイスの品質・信頼性の評価(試験)方法に関して標準化活動を行っています。

第5回 半導体信頼性認定ガイドラインセミナー 2017/10/27 開催地:名古屋市

〜日本発、世界標準:車載・一般用途半導体部品認定ガイドラインの紹介〜

    品質・信頼性を確保する新しい信頼性認定国際規格 IEC 60749-43(=EDR-4708)制定!   

    JEITAーEDR-4708B 半導体集積回路 信頼性認定ガイドラインにミッションプロファイルに基づいた信頼性試験計画手順を追加!

半導体デバイスFoundry(摩耗故障・ソフトエラー)セミナー 2017/11/20 開催地:仙台市

〜Foundry活用時代のシリコン信頼性について〜

    EDR-4707 LSIの故障メカニズム及び試験方法に関する調査報告 の執筆陣による解説

    EDR-4705A JEITAソフトエラー試験ガイドライン(IEC基準にも提案成立)を解説します。 

半導体デバイス標準化 ESDセミナー 2017/11/21 開催地:仙台市

    JEITAーEDR4709:システムレベルESDに対応した半導体のESD試験方法検討と システムへの半導体部品実装方法のガイドライン

    JEITAーEDR4710:半導体取り扱いとESD耐量適正化検討のガイドライン 詳細解説

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