半導体信頼性技術委員会

半導体信頼性技術委員会について

半導体信頼性技術委員会は,産業、民生用途などの一般的な半導体デバイスの品質・信頼性の評価(試験)方法に関して標準化活動を行っています。

半導体信頼性技術ガイドラインセミナー(個別半導体)

〜Si/SiC/GaN パワー半導体の信頼性試験の標準化最前線〜

 パワー半導体デバイスの信頼性試験とその考え方について、JEITAメンバーが丁寧に解説します!

2019/ 2/ 8 開催地:名古屋市

 現在、車載用電子部品認定規格としてはAEC-Q100/101が良く知られていますが、 摩耗不良に注目した過度な信頼性を追求する規格になっており、品質に関する観点が抜けている課題があります。

 JEITAで発行する「EDR-4711A 個別半導体信頼性認定ガイドライン」は“EDR-4708B「半導体集積回路信頼性認定ガイドライン」”における“パワー半導体版”として、ユーザ/ベンダそれぞれの視点で「低コスト・高品質・高信頼性」を確保できる製品認定ガイドラインとして策定し、本セミナーでは、ガイドラインの内容および今後の動向について解説します。

 また、今後の市場伸長が期待されるSiCおよびGaN化合物パワー半導体に対応するため、「化合物パワー半導体信頼性技術WG」を発足し、「化合物パワー半導体信頼性試験ガイドライン」を策定しました。本セミナーでは、SiCウェーハの結晶欠陥の非破壊検査方法とSiC/GaN固有の故障モードに着目した信頼性試験方法のガイドラインの解説をします。

 さらに、2018年4月に発行した「EDR-4712/300(SiCウェーハの結晶欠陥の非破壊検査方法(Part 3:フォトルミネッセンス法によるSiCエピタキシャル層欠陥の検査方法)」についても紹介します。

 特別講演として、パワー半導体のユーザでもある、トヨタ自動車(株)の中谷英一氏から、車載用途の立場から見た信頼性の考え方などをご紹介いただく予定です。

(特別講演)カーエレクトロニクス技術の動向と信頼性の高い商品の提供に向けて

  トヨタ自動車株式会社 EHV電子設計部 第3電子先行設計室 グループ長 中谷英一 氏  

過去のセミナー報告