半導体信頼性技術委員会

半導体信頼性技術委員会について

半導体信頼性技術委員会は,産業、民生用途などの一般的な半導体デバイスの品質・信頼性の評価(試験)方法に関して標準化活動を行っています。

半導体デバイス信頼性 故障メカニズムセミナー

〜改訂JEITA技術レポート(EDR-4707A)をJEITAエキスパートが解説します〜

「※JEITA EDR-4707A: LSIの故障メカニズム及び試験方法に関する調査報告」

2018/ 7/ 31 開催地:東京

    半導体信頼性保証に必須の知見である故障メカニズムを基本的な内容から、メカニズムの詳細、最新のモデルの動向について解説します。基礎から理解したい方に加え、過去にJEITAセミナーに参加された方にも、理解を深め拡げて頂ける内容としております。  

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