2023-3
■JEITA規格「EDR-4712/500」が制定・発行されました。
JEITA規格「SiCウェーハの結晶欠陥の非破壊検査方法 （Part 5 :X線トポグラフ法による SiCエピタキシャル層欠陥の検査方法）」を制定・発行しました。
2023-3
■JEITA規格「ED-4701/400B」が制定・発行されました。
JEITA規格「半導体デバイスの環境及び耐久性試験方法 (強度試験II)」を制定・発行しました。
2023-3
■JEITA規格「ED-4701/500B」が制定・発行されました。
JEITA規格「半導体デバイスの環境及び耐久性試験方法 (その他の試験)」を制定・発行しました。
2023-3
■JEITA規格「ED-4701/001B」が制定・発行されました。
JEITA規格「半導体デバイスの環境及び耐久性試験方法（基本事項）」を制定・発行しました。
2023-3
■JEITA規格「ED-4701/200B」が制定・発行されました。
JEITA規格「半導体デバイスの環境及び耐久性試験方法 (寿命試験II)」を制定・発行しました。
2023-3
■JEITA規格「ED-4701/100B」が制定・発行されました。
JEITA規格「半導体デバイスの環境及び耐久性試験方法 (寿命試験 I)」を制定・発行しました。
2023-3
■JEITA規格「EDR-4711A」が制定・発行されました。
JEITA規格「個別半導体信頼性認定ガイドライン（英文）」を制定・発行しました。
2022-11
■JEITA規格「EDR-4708C」が制定・発行されました。
JEITA規格「半導体集積回路 信頼性認定ガイドライン」を制定・発行しました。
2022-6
■JEITA規格「EDR-4715」が制定・発行されました。
JEITA規格「EDR-4715 半導体故障解析手順と用語集（第1版）」を制定・発行しました。
2022-5
■JEITA規格「EDR-4716」が制定・発行されました。
JEITA規格「EDR-4716 自動車用半導体デバイスの信頼性試験における兆候精査活用ガイドライン」を制定・発行しました。
2022-4
■JEITA規格「EDR-4714」が制定・発行されました。
JEITA規格「EDR-4714 中性子SEB試験ガイドライン」を制定・発行しました。