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組織構成と活動状況


個別半導体製品技術委員会とSC47E国内委員会の各WGは、下記の組織体制、内容で活動しています。

【個別半導体製品技術委員会 2020年度組織体制】

【各PGの活動内容】

組織名 活動概要
マイクロ波デバイスGr ★マイクロ波デバイス関連のJEITA規格類の総合的な整備(制定・改正・廃止・確認)
★日本発IEC規格の提案・発行(IEC国内委員会との連携強化)
★標準化事業に係わる関連委員会との活動
★規格類の啓蒙活動
パワーデバイスGr ★パワーデバイス関連のJEITA規格類の総合的な整備(制定・改正・廃止・確認)
★日本発IEC規格の提案・発行(IEC国内委員会との連携強化)
★標準化事業に係わる関連委員会との活動
★規格類の啓蒙活動
ダイオード規格改正PG ★パワーデバイス関連規格の改定
ED-4511B(ダイオードの定格・特性及び試験方法)
パワー半導体パッケージPG
(半導体パッケージング技術委員会と共催)
★パワーパッケージ外形審議、外形図作成ガイド
★熱設計・測定・評価、モデル検討
★国際標準化動向の情報共有
オプトデバイスGr ★オプトデバイス関連のJEITA規格類の総合的な整備(制定・改正・廃止・確認)
★日本発IEC規格の提案・発行(IEC国内委員会との連携強化)
★標準化事業に係わる関連委員会との活動
★規格類の啓蒙活動
LED/IEC規格改正PG ★IEC規格改正
JEITA規格「ED-4912A」内容をIEC規格に反映
★JEITA規格「ED-4912A」啓蒙活動
LED硫化試験国際標準化PG
(半導体パッケージング技術委員会と共催)
★LED硫化腐食試験のIEC国際標準化
・LED硫化腐食試験に関する実証実験の実施
・関係機関(SC34A(照明)など)と連携した国際標準の開発

【SC47E国内委員会 2020年度組織体制】

【SC47E国内委員会、各WGの活動内容】

組織名 活動概要
SC47E国内委員会 ★IEC/SC47Eにおける日本国内の意見統一と国際会議対応
★各WGにおける国際標準化活動と国内活動の推進
★個別半導体製品技術委員会との国際標準化規格開発連携
WG2(マイクロ波) ★マイクロ波デバイスに関する用語と定義の基準、文字記号、重要な定格と特性測定方法について、日本発IEC規格の提案・発行、および既存規格のメンテナンスを推進する。
・IEC60747-16-5(マイクロ波集積回路・発信器)
WG3(パワーデバイス) ★電力用半導体素子(マイクロ波、オプトデバイス、半導体センサを除く)に関する用語と定義の基準、文字記号、重要な定格と特性測定方法について、日本発IEC規格の提案・発行、および既存規格のメンテナンスを推進する。
・IEC60747-7 (バイポーラトランジスタ)
・IEC60747-8 Ed3(FET)AMD1
・IEC60747-9 (IGBT)
WG4(フォトカプラ) ★フォトカプラやソリッドステート光リレー等のオプトデバイスに関する用語と定義の基準、文字記号、重要な定格と特性測定方法について、日本発IEC規格の提案・発行、および既存規格のメンテナンスを推進する。
・IEC60747-5-5第2版(フォトカプラ)
WG9(オプトデバイス) ★レーザーダイオード、LED、PD、APDに関する用語と定義の基準、文字記号、重要な定格と特性測定方法について、日本発IEC規格の提案・発行、および既存規格のメンテナンスを推進する。
・IEC60747-5-6 Ed2(LED)
・IEC60747-5-8 (LED硫化腐食試験)